高性能X射线荧光测量仪，配有***的硅漂移探测器(SDD)，可快速、无损地进行RoHS检测、材料分析和镀层厚度测量。 FISCHERSCOPE® XDL® X射线荧光测试仪，可手动或全自动测量功能性镀层(包括铬层测厚、铜厚测量)、防腐蚀镀层和大规模生产零部件 XDL镀层厚度测量仪 ...